Boundary Scan, también conocida como JTAG, es una técnica de ensayo que se aplica a dispositivos equipados con un puerto de prueba especial de acceso (TAP) y circuitos adicionales. Conforme a la norma IEEE 1149.1, estos dispositivos pueden ser probados interna y externamente utilizando datos en serie que se ajusten a la norma.

Además de la capacidad de exploración básica para probar la continuidad entre la lógica interna y la red externa en el circuito, una solución Boundary Scan totalmente compatible con la norma 1149.1 puede ser integrado en nuestros equipos. Diagnosys es un socio tecnológico de XJTAG, lo que nos permite ofrecer una solución líder en la industria para prueba de dispositivos y tarjetas con Boundary Scan.

XJTAG proporciona un software gráfico avanzado:

XJAnalyser para análizis de exploración automático: XJDebug para la depuración de código de prueba, incluyendo: XJRunner para un completo y gráfico tiempo de ejecución: XJEase permite alto nivel dispositivo-céntrico:
Configuraciones de cadena Puntos de interrupción y modificaciones Entorno de producción Capacidades de software para ensayos no-Jtag
Configuración plug-and-play Paso a través o sobre el código de una línea a la vez completo y gráfico tiempo de ejecución Dispositivo de la cadena de exploración
Control de los pasadores en los dispositivos JTAG Establecer, quitar y visualizar puntos de interrupción Environment run-only environment Alto nivel de lenguaje tipo BASIC
Ejecutar archivos SVF Comprobar o modificar valores Centrada en el dispositivo, no en la tarjeta
Depuración cadena JTAG Pruebas de dispositivos no-JTAG
Pin Watch
Run Chains / Single Step
After Dev
geometría del dispositivo

Los siguientes productos Diagnosys tienen capacidad Boundary Scan:

S500 S790 PinPoint II
FaLang translation system by Faboba

Products Boundary Scan Capabilities

Diagnosys' products with Boundary Scan Capability

S790

The Diagnosys S790 Series2 with its high technical specification hardware and technology, represents the ultimate high-performance, precision test ATE system.

S500

The S500 is an easy-to-use turnkey functional test solution for your LRUs, PCBs and electronic assemblies

PinPoint II R

The PinPoint II R provides industry leading capability for the test and fault finding of the most challenging circuits. Allowing you to select and apply different test techniques on a single circuit, comprehensive fault coverage is ensured.

PinPoint Alpha

Designed from the outset with modularity and scalability in mind, the PinPoint system is flexible, adaptable and modular.

PinPoint Sigma

Designed on an extended chassis providing 10 available slots for Digital Universal and analog Matrix channels, the PinPoint Sigma delivers maximum flexibility and capability.

PinPoint Diagnostic Sub-system

In this format, PinPoint technology is available in an industry standard 19” rack-mounted format so that it can be integrated into functional test systems to provide comprehensive fault finding diagnostic tools and a troubleshooting tool-set.